Simulation based reliability assessment of quantum circuits

Abstract

Teza adresează problematica evaluărilor de fiabilitate a circuitelor cuantice prin metode bazate pe simulare. Prima direcţie de cercetare este reprezentată de dezvoltarea unei metodologii de injecţie simulată de defecte pentru circuite cuantice. Aceasta este aplicată la nivel de poartă logică pe baza descrierilor în limbajul VHDL a circuitelor. Principalul avantaj al metodologiei propuse este reprezentat de capacitatea ridicată de modelare a defectelor cuantice. Al doilea obiectiv este reprezentat de dezvoltarea de tehnici pentru obţinerea scalabilităţii în procesul de analiză a fiabilităţii circuitelor cuantice. Sunt propuse două abordări. Prima este bazată pe injecţia simulată de defecte aplicabilă în două faze. A doua abordare propusă se bazează pe combinarea simulării cu tehnici analitice precum grafuri Markov sau diagrame de fiabilitate.