Please use this identifier to cite or link to this item:
https://dspace.upt.ro/xmlui/handle/123456789/6035| Title: | Probleme ale testării industriale a unităţilor de memorie RAM cu circuite integrate |
| Authors: | Dancău, Marian Gh. |
| Subjects: | Circuite integrate Unităţi de memorie RAM Teză de doctorat |
| Issue Date: | 1983 |
| Publisher: | Institutul Politehnic „Traian Vuia" Timișoara, Facultatea de Electrotehnică |
| Citation: | Dancău, Marian Gh.. Probleme ale testării industriale a unităţilor de memorie RAM cu circuite integrate. Timișoara: Institutul Politehnic „Traian Vuia" Timișoara, Facultatea de Electrotehnică, 1983 |
| URI: | https://dspace.upt.ro/xmlui/handle/123456789/6035 |
| Appears in Collections: | Teze de doctorat/Phd theses |
Files in This Item:
| File | Description | Size | Format | |
|---|---|---|---|---|
| BUPT_TD_Dancau Marian.pdf | 17.36 MB | Adobe PDF | View/Open | |
| BUPT_TD_Dancau Marian_Anexa A5_A6.pdf | 24.45 MB | Adobe PDF | View/Open |
Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.