Utilizaţi acest identificator pentru a cita sau a face link la acest document:
https://dspace.upt.ro/xmlui/handle/123456789/6035| Titlu: | Probleme ale testării industriale a unităţilor de memorie RAM cu circuite integrate |
| Autori: | Dancău, Marian Gh. |
| Subiecte: | Circuite integrate Unităţi de memorie RAM Teză de doctorat |
| Data publicării: | 1983 |
| Editura: | Institutul Politehnic „Traian Vuia" Timișoara, Facultatea de Electrotehnică |
| Citare: | Dancău, Marian Gh.. Probleme ale testării industriale a unităţilor de memorie RAM cu circuite integrate. Timișoara: Institutul Politehnic „Traian Vuia" Timișoara, Facultatea de Electrotehnică, 1983 |
| URI: | https://dspace.upt.ro/xmlui/handle/123456789/6035 |
| Colecţia: | Teze de doctorat/Phd theses |
Fişierele documentului:
| Fişier | Descriere | Mărime | Format | |
|---|---|---|---|---|
| BUPT_TD_Dancau Marian.pdf | 17.36 MB | Adobe PDF | Vizualizare/Deschidere | |
| BUPT_TD_Dancau Marian_Anexa A5_A6.pdf | 24.45 MB | Adobe PDF | Vizualizare/Deschidere |
Documentele din DSpace sunt protejate de legea dreptului de autor, cu toate drepturile rezervate, mai puţin cele indicate în mod explicit.